受激发射损耗显微技术（Stimulated Emission Depletion Microscope，STED）是一种高分辨显微镜技术，它通过结合激光的受激发射和损耗过程实现超高分辨成像。受激发射损耗显微镜可呈现突破衍射极限的结构细节，最小分辨率可达50nm以下，可用于观察纳米级的亚细胞结构和动态变化，具有超高分辨率、快速扫描、多色观察、活细胞监测、厚组织标本3D重建、共定位分析等优势，是现代医学和细胞生物学研究的理想工具。
培训仪器：受激发射损耗显微镜（STED）
培训内容：受激发射损耗显微镜的应用及样本制备
培训时间：2023年10月12日（周四）
上午10:00-11:30 理论培训
下午14:00-16:00 上机培训&问题解答
培训地点：唐仲英科技楼辅楼101会议室（理论培训）
B8-112（2）室（上机培训）
联系电话：025-85811983
上机培训报名方式：
点击链接：https://www.wjx.cn/vm/OtwphE8.aspx#
欢迎各位老师、同学参加！
国有资产与实验室管理处
2023年10月07日